专利名称：一种用于对样品进行盲检的方法及系统专利类型：发明专利发明人：李超
申请号：CN201911386042.2申请日：20191229公开号：CN111369098A公开日：20200703
摘要：本发明公开了一种用于对样品进行盲检的方法及系统，所述方法包括：确定待化验的样品的业务，基于所述样品的业务生成所述样品的业务信息，所述业务信息中包括所述样品的识别信息和业务处理信息，对所述业务信息进行加密；生成所述样品的业务标识，所述样品的业务标识用于识别进行业务处理过程中的样品；在对所述样品的业务进行处理之前，通过所述样品的业务标识对所述样品进行核对；当所述样品通过核对时，对所述样品的业务信息中的业务处理信息进行解密，根据解密后的所述样品的业务处理信息对所述样品进行业务处理，获取所述样品的业务处理结果信息；对所述样品的业务处理结果信息进行加密后进行存储。
申请人：航天信息股份有限公司
地址：100195 北京市海淀区杏石口路甲18号
国籍：CN
代理机构：北京工信联合知识产权代理有限公司
代理人：姜丽楼
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