专利名称：一种氟离子的检测方法及去除方法专利类型：发明专利
发明人：许跃,李晓磊,庄琳,李倩琍申请号：CN201811125523.3申请日：20180926公开号：CN109297943A公开日：20190201
摘要：本发明公开了一种氟离子的检测方法及去除方法。本发明以固定有碳量子点（SiCDs）的介孔二氧化硅层为自荧光标记物，同时以荧光团纯碳点（NCDs）和F离子受体镍离子（Ni）螯合物为猝灭荧光探针，形成双荧光团复合超顺磁性荧光探针，利用氟离子与纯碳点竞争性结合荧光探针中的Ni，从而改变荧光强度来实现氟离子的快速、高效、特异、可视化检测，其检测限为65 nM，线性范围为1～25μM；本发明还同时建立了一种简便、快速、特异、高效的氟离子去除方法，在自来水中对氟离子的去除有效率高达96%，且该荧光探针可以重复回收利用，可望在生物与医学监控及检测领域得到广泛的应用。
申请人：中山大学
地址：510275 广东省广州市海珠区新港西路135号
国籍：CN
代理机构：广州粤高专利商标代理有限公司
代理人：陈卫
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